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J750Ex-HD
Teradyne
0512-68050516-8015
18914031336
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Teradyne
可销售 可租赁 可维修 可回收
微控制单元 (MCU) 常用于汽车、移动电子和机器人领域。 在您日常生活所需要用到电子设备中，包含有多个 MCU，它们为您提供各种功能，而这些 MCU 很可能是经由泰瑞达 J750 系列平台测试的。 该测试系统的安装基数不断增长，已达到 6000 以上，遍布 50 余个封测外包 (OSAT) 点。泰瑞达 J750 已成为低成本芯片大批量测试的行业标准。
为何 J750ExHD 能成为微控制器测试领域的标杆？ J750 于 1998 年推出。 无论是当时还是现在，泰瑞达始终聚焦于减少单工位测试时间，并不断改进并行测试效率，以降低测试成本，同时保持平台跨代兼容性。 J750 系列平台是在役时间较长的ATE 产品系列，在其整个生命周期内保持了强大的兼容性，同时不断推出新板卡，以提高测试性能，降低测试成本。 J750Ex-HD 是其中的新产品，提供了市面上较高水平的并行性和性能。
在竞争激烈的半导体市场中，降低测试成本至关重要。 J750Ex-HD 系列的测试成本较竞争产品降低了 25-50%，同时提供更高的产能和更多的工位数。 高密度 (HD) 系列板卡和软件提供了更高的工位数，实现了降低测试成本的较快途径。
屡获殊荣的 IG-XL™ 软件使得多工位测试程序的开发速度较竞争对手的 ATE 软件系统提升 30%。 与其他 ATE 编程语言相比，IG-XL 更注重效率，所需代码行数减少了 50%。 其软件环境提倡代码复用，语言无需编译代码，大幅增强了实时调试体验。 由于该软件可在 J750Ex-HD 系列中无缝转换，因此可利用现有的对接接口进行量产层集成，从而降低了量产导入的风险。
J750Ex-HD 是市面上成熟、久经验证的汽车 MCU 测试平台。 该测试系统旨在提供稳定的芯片测试结果，并配备相应的软件工具，以帮助验证测试程序，提供高质量的测试方案，这一点对汽车市场至关重要。 测试程序验证工具套件可防止编程错误和意外的程序更改。 独有的板卡监测功能避免了对待测芯片的潜在损坏，三温探针接口意味着汽车芯片可以在低温（-25°C 至 -45°C）、环境温度和高温（120°C 至 160°C）下进行测试。
微控制单元 (MCU) 常用于汽车、移动电子和机器人领域。 在您日常生活所需要用到电子设备中，包含有多个 MCU，它们为您提供各种功能，而这些 MCU 很可能是经由泰瑞达 J750 系列平台测试的。 该测试系统的安装基数不断增长，已达到 6000 以上，遍布 50 余个封测外包 (OSAT) 点。泰瑞达 J750 已成为低成本芯片大批量测试的行业标准。
为何 J750ExHD 能成为微控制器测试领域的标杆？ J750 于 1998 年推出。 无论是当时还是现在，泰瑞达始终聚焦于减少单工位测试时间，并不断改进并行测试效率，以降低测试成本，同时保持平台跨代兼容性。 J750 系列平台是在役时间较长的ATE 产品系列，在其整个生命周期内保持了强大的兼容性，同时不断推出新板卡，以提高测试性能，降低测试成本。 J750Ex-HD 是其中的新产品，提供了市面上较高水平的并行性和性能。
在竞争激烈的半导体市场中，降低测试成本至关重要。 J750Ex-HD 系列的测试成本较竞争产品降低了 25-50%，同时提供更高的产能和更多的工位数。 高密度 (HD) 系列板卡和软件提供了更高的工位数，实现了降低测试成本的较快途径。
屡获殊荣的 IG-XL™ 软件使得多工位测试程序的开发速度较竞争对手的 ATE 软件系统提升 30%。 与其他 ATE 编程语言相比，IG-XL 更注重效率，所需代码行数减少了 50%。 其软件环境提倡代码复用，语言无需编译代码，大幅增强了实时调试体验。 由于该软件可在 J750Ex-HD 系列中无缝转换，因此可利用现有的对接接口进行量产层集成，从而降低了量产导入的风险。
J750Ex-HD 是市面上成熟、久经验证的汽车 MCU 测试平台。 该测试系统旨在提供稳定的芯片测试结果，并配备相应的软件工具，以帮助验证测试程序，提供高质量的测试方案，这一点对汽车市场至关重要。 测试程序验证工具套件可防止编程错误和意外的程序更改。 独有的板卡监测功能避免了对待测芯片的潜在损坏，三温探针接口意味着汽车芯片可以在低温（-25°C 至 -45°C）、环境温度和高温（120°C 至 160°C）下进行测试。
