致茂/Chroma 3380P VLSI 测试系统

• 50/100 MHz测试频率

• 50/100 Mbps数据速率

• 512数字信道管脚
  (可至576数字信道管脚)

• 并行测试可达512 sites同测数

• 32/64/128M Pattern内存

• 多样弹性VI电源

• 弹性化硬件结构 (可互换式 I/O, VI, ADDA)

• Real parallel Trim/Match功能

• 时序频率测试单位 (TFMU)

• AD/DA功能板卡(16/24 bits) (可选配)

• SCAN向量存储深度(2G bits/chain) (可选配)

• ALPG测试选配供内存IC用

• STDF工具支持

• 测试程序/pattern转换器 (J750, D10, V50,E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)

• 人性化Window 7操作系统

• CRAFT C/C++ 程序语言

• 软件接口与3380P/3360P相同

• Direct mount治具可相容于3360P probe-card

• Cable mount治具可相容于3360D与3360P

为因应未来IC芯片须具备更高速度及更多脚位及更复杂功能的IC芯片，Chroma新一代VLSI测试系统3380D/3380P/3380除采用更弹性架构外，整合密度更高且功能更强大。

3380D/3380P/3380机型为因应高同测(High Parallel Test)功能，除内建独特的4-wire功能高密度IC电源(VI source)外，更具备Any Pins to Any Site高同测功能(512 I/O pin可并行测512个测试芯片)，以因应未来IC芯片更高的测试需求。

3380P同时具备All-In-One (Only Test Head) 的小型化、低耗能化设计及非常具竞争性的机台性价比。

3380系列VLSI测试系统无论在装机、稳定度、友善使用接口、及成本效益上，长期以来皆已于中国市场获得广泛印证。

Logic, MCU, ADDA (Mixed-signal) ; Power, LED driver, Class D ; SCAN, ALPG, Match and etc.